簡要描述:LWM400JT芯片檢查顯微鏡特點(diǎn):1. 配置大視野目鏡和長距平場(chǎng)消色差物鏡(無蓋玻片),視場(chǎng)大而清晰。2. 配置大移動(dòng)范圍的載物臺(tái),能快速和慢速移動(dòng)。3.粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動(dòng)松緊可調(diào),帶鎖緊和限位裝置,微動(dòng)格值:2μm。4. 6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察,可進(jìn)行100%透光攝影。
品牌 | 廈門地坤 |
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LWM400JT芯片檢查顯微鏡
主要技術(shù)參數(shù):
1、三目鏡筒:傾斜30 °,瞳距55mm-75mm,視度±5°
2、目鏡:WF10X/18mm
3、長距平場(chǎng)消色差物鏡(無蓋玻片)
PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40
PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8
4、總放大倍數(shù):50X-800X
5、載物臺(tái):尺寸: 280mm×270mm,移動(dòng)范圍: 204mm×204mm
6、調(diào)焦:粗微動(dòng)同軸 升降范圍25mm ,微動(dòng)格值0.002mm
7、光 源:柯勒照明 濾色片座 可調(diào)鹵素?zé)?V20W
8、正交偏光裝置
LWM400JT芯片檢查顯微鏡
選購件:
1、目鏡:WF16X/11mm,WF20X/9mm,10X帶尺可調(diào)目鏡
2、長距平場(chǎng)消色差物鏡(無蓋玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (彈簧)、 PL L 100X/0.85 (彈簧)
平場(chǎng)消色差物鏡(無蓋玻片): PL 100X/1.25 (彈簧,油)
3、攝像系統(tǒng):數(shù)碼攝像頭130萬或300萬,數(shù)碼相機(jī)
4、測(cè)量軟件,金相分析軟件等
用途:
芯片檢查顯微鏡LWM400JT適用于對(duì)不透明物體的進(jìn)行顯微觀察。配置大移動(dòng)范圍的機(jī)械式載物臺(tái)、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。
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