簡(jiǎn)要描述:LW400LJT芯片檢查顯微鏡特點(diǎn):1.配置大視野目鏡和長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片),視場(chǎng)大而清晰。2.配置大移動(dòng)范圍的載物臺(tái),移動(dòng)范圍:8“×8“(204mm×204mm)。3.粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動(dòng)松緊可調(diào),帶限位鎖緊裝置,微動(dòng)格值:0.8μm。4.6V 30W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。5.三目鏡筒,可自由切換正常觀察/偏光觀察,明視場(chǎng)/暗視場(chǎng)觀察. 可進(jìn)行100%透光攝影。
品牌 | 廈門(mén)地坤 |
---|
LW400LJT芯片檢查顯微鏡
主要技術(shù)參數(shù):
1. 鏡筒:三目觀察筒,傾斜30?,(內(nèi)置檢偏振片,可進(jìn)行切換), 雙目瞳距調(diào)節(jié)范圍:53~75mm
2. 目鏡:大視野10X/22mm
3. 無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)
PL5X/ 0.12工作距離 26.1mm
PL 10X/ 0.25工作距離 20.2 mm
PL 20X/ 0.40工作距離8.80mm
PL 50X/ 0.70工作距3.685mm
PL 80X/ 0.80工作距離1.25mm
4.落射照明系統(tǒng):6V20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)
內(nèi)置視場(chǎng)光闌、孔徑光闌、濾色片(藍(lán)、黃、綠、磨砂)轉(zhuǎn)換裝置,推拉式檢偏器與起偏器
5.調(diào)焦機(jī)構(gòu):粗微動(dòng)同軸調(diào)焦, 微動(dòng)格值0.7μm,帶鎖緊和限位裝置
6.轉(zhuǎn)換器:五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)
7.載物臺(tái):尺寸:280mm*270mm,移動(dòng)范圍:(X)204mm*(Y)204mm
8.透射照明系統(tǒng): 阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降
9.濾色片:藍(lán)濾色片和磨砂玻璃
10、偏光裝置: 起偏振器,可360度旋轉(zhuǎn),可推拉切換
檢偏振器,可推拉切換
LW400LJT芯片檢查顯微鏡
選購(gòu)件:
1.無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)
PL60X /0.75工作距離1.9 mm
PL100X(干式)/ 0.85工作距離0.35 mm
用途:
LW400LJT適用于對(duì)不透明物體的顯微觀察及8寸芯片觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能,緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì),使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。
上一篇:LW400JT芯片檢查顯微鏡
下一篇:LWM400JT芯片檢查顯微鏡
掃一掃 微信咨詢
©2024 廈門(mén)地坤科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):閩ICP備16010437號(hào)-1 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) Sitemap.xml 總訪問(wèn)量:424519 管理登陸